一、特点:
1.双光束比例监测光学系统使得仪器在测量过程中动态监测光源的变化,抵消光源波动,提高仪器的稳定性。
2.采用8彩色中/英文触摸显示屏,显示清晰,信息完备。
3.完善的数据分析功能,主机可独立完成功能包括但不限于光度测量、定量测量、光谱扫描、动力学、DNA/蛋白质测试,多波长测试及数据打印。
4.光学基座:采用光学系统悬架式设计,整体光路独立固定在16mm厚的铝制无变形基座上。
5.可选配光谱扫描软件,联机操作时,除能实现主机的所有测试功能外,还可实现更为强大的数据处理功能,并且使数据存储达到无限。
6.软件遵循GLP/GMP实验室使用规范,内置完善的用户管理、日志记录、数据存储追溯及报告输出功能。
7.可方便使用可另配自动八连池架、微量比色皿架、恒温自动进样器、反射附件、可旋转式固体样品架、积分球等附件,扩展了仪器的适用范围和应用领域。
二、仪器功能:
1.光度测量:固定波长下检测样品的吸光度和透过率和能量。
2.定量测量:a系数法输AC=KA+Bs或A=KC+B,B标样法多个建立标准曲线。
3.多波长测试、动力学测试、光谱扫描、GMP认证、精度验证。
三、技术参数:
型号 | 754型自动紫外可见分光光度计 |
光学系统 | 1600条/衍射光栅,增强型比例监测;狭缝带宽:1.7nm |
输出 | USB、蓝牙、无线网、PDF、Excel |
波长范围 | 190—1100 nm,波长分辨率0.1 nm |
数据显小 | (8寸彩色中/英文触摸显示屏),显示清晰,信息完备。双语操作自动切换中、英文 |
波长准确度 | ±0. 1nm (@656. 1nmD2, ±0. 3nm(全波长范围) 重复性±O. 15nm,波长分辨率0.1nm |
杂散光 | ≤O.05%T(220nm Nal ;360nm NaN02) |
光度范围 | 0-200%T, -4-4. 0A, -9999-9999C |
光度准确度 | ±0.2%T(0-100%T)±0.002Abs(0-0.5Abs) |
光度重复性 | ±0.15%T(0-100%T)≤0.001Abs(0-0.5Abs) |
基线平直度 | ±0.002A;稳定性:0.0007A/h |
光度噪声 | ±0. 0003A(500nm/0A/1 小时) |
软件 | 标配光谱分析家 ,PC端标配GMP审计追踪功能 |
仪器体积重量 | 450*350*200rm ;重量 14公斤 |
光源 | 原装进口氘灯、钨灯 |